GB 9614-1988 半导体电视集成电路行场扫描电路测试方法的基本原理

作者:标准资料网 时间:2024-05-20 04:50:44   浏览:8912   来源:标准资料网
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基本信息
标准名称:半导体电视集成电路行场扫描电路测试方法的基本原理
中标分类: 电子元器件与信息技术 >> 微电路 >> 半导体集成电路
替代情况:调整为SJ/T 11006-1996
发布日期:1900-01-01
实施日期:1989-02-01
首发日期:1900-01-01
作废日期:1900-01-01
出版日期:1900-01-01
页数:20页
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所属分类: 电子元器件与信息技术 微电路 半导体集成电路
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基本信息
标准名称:软磁盘驱动器质量分等标准
英文名称:Diskette drivers-Quality grading standard
中标分类: 矿业 >> 矿业综合 >> 技术管理
发布部门:中华人民共和国电子工业部
发布日期:1993-09-03
实施日期:1994-01-01
首发日期:1900-01-01
作废日期:2010-01-20
提出单位:中华人民共和国电子工业部科技与质量监督司
归口单位:电子工业部标准化研究所
起草单位:国营建南机器厂
起草人:陶水珍
出版日期:1994-01-01
页数:2页
适用范围

本标准规定了软磁盘驱动器的产品质量分等和质量分等的技术要求。本标准适用于90mm和130mm软磁盘驱动器的质量分等,是考核软磁盘驱动器产品质量等级的依据。本标准必须与GB 12627或企业标准一起使用。

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所属分类: 矿业 矿业综合 技术管理
【英文标准名称】:TestMethodforEvaluationofPolysilicon
【原文标准名称】:多晶硅评定用试验方法
【标准号】:ASTMF574-1988
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1988
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:硅;电子工程;评定
【英文主题词】:electronicengineering;evaluations;silicon
【摘要】:
【中国标准分类号】:H81
【国际标准分类号】:71_060_10
【页数】:5P;A4
【正文语种】:英语